儀器租借
| 儀器名稱 （中文） | 儀器名稱（英文） | 儀器位置 | 儀器介紹 | 儀器預約 | 收費標準 |
| X 射線光電子能譜儀 (XPS)（化工系系貴儀） | X-Ray Photoelectron Spectroscope, XPS | T2-105 | 連結 | 連結 | 連結 |
| 高速離心機 | High-Performance Centrifuge | E2-101 | 連結 | 連結 | 連結 |
| 超高速離心機 | Ultra Centrifuge, Optimal L-90K | E2-101 | 連結 | 連結 | 連結 |
| 紫外線/可見光分光光譜 | UV (V-550) | E2-101 | 連結 | 連結 | 連結 |
| 細胞培養室 | Cell Culture Room | E2-101 | 連結 | 連結 | 連結 |
| 熱示差掃描卡量計 | Jade DSC | E2-101 | 連結 | 連結 | 連結 |
| 耐衝擊試驗機 | BPI | E2-302 | 連結 | 連結 | 連結 |
| 萬能材料試驗機 | Universal Testing Machine, M500-25AT | E2-100 | 連結 | 連結 | 連結 |
| 橢圓偏光儀 | Ellipsometer | T2-106-2 | 連結 | 連結 | 連結 |
| 凝膠滲透層析儀 | Aqueous phase GPC | E2-100 | 連結 | 連結 | 連結 |
| 拉曼光譜儀 | Raman Spectroscope | T2-106-2 | 連結 | 連結 | 連結 |
| 表面積及孔徑分析儀 | BET | 連結 | 連結 | 連結 | |
| 表面張力分析儀 | SurfaceTension Analyze | E2-101 | 連結 | 連結 | 連結 |
| 恒電位儀 | Poteantialstat | E2-402 | 連結 | 連結 | 連結 |
| 微區螢光光譜儀 | PL Spectrometer | T2-106-2 | 連結 | 連結 | 連結 |
| 電致發光量測機台 | EL Spectrometer | T2-106-2 | 連結 | 連結 | 連結 |
| 感應耦合電漿原子發射光譜儀 | ICP - OES | E2-100 | 連結 | 連結 | 連結 |
| 微電腦數字型錐板式粘度計 | E2-101 | 連結 | 連結 | 連結 | |
| 螢光顯微鏡 | IX-73 | E2-101 | 連結 | 連結 | 連結 |
| 紫外光可見光分光度計 | V-750 | E2-101 | 連結 | 連結 | 連結 |
| 進階式熱重分析儀 | TGA 550 | E2-100 | 連結 | 連結 | 連結 |
| 傅立葉轉換紅外線光譜分析儀 | FTIR Tracer-100 | E2-100 | 連結 | 連結 | 連結 |
| 氣相層析質譜儀 | GC-MS | E2-100 | 連結 | 連結 | 連結 |
| 固體表面界達電位分析儀 | SurPASS3 | E2-101 | 連結 | 連結 | 連結 |
| 高壓氣體吸附量測儀 | High-pressure gas adsorption measuring system | T2-105 | 連結 | 連結 | 連結 |
| X 光繞射儀 | XRD-D8 Advance | T2-105 | 連結 | 連結 | 連結 |
| 高解析度小角度 X 光散射儀（貴儀中心校貴儀） | (SAXS) | T2-102 | 連結 | 連結 | 連結 |
| 粒徑暨界達電位分析儀 (ELSZ-2000) | Particle Size & Zeta Potential Analyzer | E2-101 | 連結 | 連結 | 連結 |
| 掃描式電子顯微鏡 | SEM | T2-106-1 | 連結 | 連結 | 連結 |
| 時間解析螢光光譜儀 | TRPL | T2-106-2 | 連結 | 連結 | 連結 |
